元器件期复验与失效分析【广电计量检测】

元器件期复验

      元器件的期复验需按照过有效存储期时间的长短进行分类。元器件的期复验过有效储存期的时间分为A、B、C三类。

储存期已过有效储存期，但未过1.3倍的为A类。

储存期已过有效储存期1.3倍，但未过1.7倍的为B类。

储存期已过有效储存期1.7倍，但未过2.0倍的为C类。

除非另有规定，过有效储存期2.0倍的元器件不得进行期复验；对于已通过了A、B类期复验，而且其总储存期未过有效储存期2.0倍的元器件，允许按C类进行*二次期复验；已经过C类期复验的元器件，不得再次进行期复验。

通常情况下，储存期过有效储存期的元器件必须按相关技术文件的检验过程进行复验，通过复验的元器件，才能作为合格品装机使用，未经复验的期元器件不得装机使用。过有效储存期2.0倍的元器件不得进行期复验。

在复验过程中发现致命缺陷（功能失效）或严重缺陷的元器件，应进行失效分析；如果分析结果表明缺陷为批次性，则同一生产批的元器件不得用于型号产品。

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